福祿克光纖測試過程中衰減不合格(失敗)的原因？
福祿克光纖測試過程中衰減不合格(失敗)的原因？我們在從事福祿克光纖測試的時候經常會面臨光纖衰減不合格。福祿克的常見光纖測試儀有DTX-1800配套單多模模塊DTX-EFM2和DTX-SFM2。還有CFP-100-Q和OFP-100-Q等測試儀。造成光纖衰減的主要因素有：本征，彎曲，擠壓，雜質，不均勻和對接等。
本征：是光纖的固有損耗，包括：瑞利散射，固有吸收等。
彎曲：光纖彎曲時部分光纖內的光會因散射而損失掉，造成損耗。
擠壓：光纖受到擠壓時產生微小的彎曲而造成的損耗。
雜質：光纖內雜質吸收和散射在光纖中傳播的光，造成的損失。
不均勻：光纖材料的折射率不均勻造成的損耗。
對接：光纖對接時產生的損耗，如：不同軸(單模光纖同軸度要求小于0.8μm)，端面與軸心不垂直，端面不平，對接心徑不匹配和熔接質量差等。
當光從光纖的一端射入，從另一端射出時，光的強度會減弱。這意味著光信號通過光纖傳播后，光能量衰減了一部分。這說明光纖中有某些物質或因某種原因，阻擋光信號通過。這就是光纖的傳輸損耗。只有降低光纖損耗，才能使光信號暢通無阻。
本文關鍵字: 不均勻, 光纖測試儀, 對接, 彎曲, 擠壓, 本征, 雜質, 衰減不合格
原創標題：福祿克光纖測試過程中衰減不合格(失敗)的原因？
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